全部
▼
熱搜：
802
0
本發明公開了一種天然氣長輸管道失效的分析方法，包括步驟一、針對天然氣長輸管道的腐蝕減薄狀況，通過實驗方法和理論方法獲得其在天然氣輸運過程中的腐蝕速率；二、通過腐蝕速率預測天然氣長輸管道在使用年度的管壁有效厚度和延性裂紋止裂韌性；三、通過概率分析方法計算發生延性裂紋擴展管段的數量占全體連接管段數量的比例；四、計算天然氣長輸管道的失效風險概率；五、根據天然氣長輸管道的失效風險概率和可承擔風險概率，對管道失效進行分析判定，并預測管道的允許使用年限。本發明方法步驟簡單，實現方便，能夠有效應用在天然氣長輸管道的失效分析中，對天然氣長輸管道的安全檢驗、維護和保養提供可靠的指導，效果顯著，便于推廣。
827
0
一種存儲元件的失效模式分析方法，包括：利用檢測系統來掃描晶圓，以產生所述晶圓的失效圖形，并利用檢測程序來取得所述晶圓中的單比特位的失效數量；依據字線布局、位線布局以及有源區布局定義出單比特位的分組表；對自對準雙重圖案化工藝中的至少一工藝分類出核心群組與空隙群組；以及分別統計所述核心群組與所述空隙群組中的單比特位的失效數量，以產生核心失效信息與空隙失效信息。
762
0
本發明公開了飛機發動機非包容失效安全性分析系統及方法，屬于飛機特殊風險分析與評估的技術領域。所述飛機發動機非包容失效安全性分析系統包括需求信息處理模塊、參數設定模塊、模擬仿真和結果輸出模塊。所述飛機發動機非包容失效安全性分析方法：確定發動機轉子碎片相對于飛機數字樣機的位置參數、尺寸參數；在失效碎片可達區域范圍內，采用基于區域劃分和層次包圍盒法檢測發動機轉子碎片可能導致失效的飛機設備模型，通過對仿真結果矩陣和最小割集做布爾運算，識別災難性功能危險并定量給出轉子非包容失效安全性的分析結果。本發明在飛機設計階段快速精確地識別出轉子非包容失效的潛在危險，為飛機系統安全性設計和構型設計提供技術支持。?
1003
0
本發明公開了一種基于回歸分析的電磁環境中TCU失效預警方法，包括步驟：(1)通過電磁時域仿真軟件確定TCU電路板圖上的敏感器件；(2)在敏感器件上設置若干個探頭，監視感應電壓波動或感應電流波動，若出現異常則記錄到異常日志中；(3)對異常日志pn進行信息提取，構造異常信息向量sn，并評估其失效模式概率
1006
0
本發明涉及一種電腦主機板失效分析方法,其包括以下步驟:1)、對電腦主機板進行外觀光學檢查,判斷其是否有污染;2)、對步驟1)中判斷有污染的電腦主機板進行電性隔離測試,判斷其是否有電性異常;3)、對步驟2)中判斷有電性異常的電腦主機板進行SEM/EDS分析,判斷其是否有導電性元素;4)、對步驟3)中判斷有導電性元素的電腦主機板進行超聲波清洗。本發明所述的電腦主機板失效分析方法,其通過對電腦主機板進行外觀光學檢查、電性隔離測試、SEM/EDS分析以及超聲波清洗,可以有效、快速地檢測出電腦主機板產生的失效現象。
762
0
本發明涉及一種MIM電容器件失效分析方法，MIM電容器件位于一硅襯底上并包括一上極板、一下極板和一位于上極板與下極板之間的絕緣層，硅襯底上還至少包括一位于MIM電容器件上方的金屬層，上、下極板分別與金屬層的第一、第二電路區電連接，該方法包括如下步驟：a)確定下極板有無接地，若沒有，則執行步驟b)；否則，執行步驟d)；b)尋找與MIM電容器件層間距離最近的電源總線；其中，電源總線包括一接地引線；c)形成一連接下極板與電源總線的電路通路；d)通過電壓襯度檢測確定MIM電容器件的漏電區域。其在通過電壓襯度檢測MIM電容漏電區域時，不會漏過漏電程度較小的情況，便于觀測、也更加可靠。
1070
0
本發明公開了一種地鐵供電網絡懸吊結構件的失效分析方法及應用，包括如下步驟：在已經斷裂失效的懸吊結構件的斷口處取樣(包含斷裂面)，將樣品清潔后，首先利用體視顯微鏡進行斷口及其周圍的宏觀檢查。利用掃描電子顯微鏡對斷口進行微觀形貌觀察，然后利用電子探針X射線顯微分析儀對斷口表面進行元素定性分析，最后利用電子探針X射線顯微分析儀對樣品進行元素相對分布分析，根據檢測結果分析導致懸吊結構件失效的原因。將體視顯微鏡、掃描電子顯微鏡與電子探針X射線顯微分析儀等設備結合起來鑒定懸吊結構的失效原因，各自取長補短使整個分析過程更有理有據，即準確直觀，又方便易行，對雜質元素的分析與定位也更精確。
940
0
本發明為一種用于高鐵裝置油位計聚碳酸酯玻璃板失效原因的綜合分析方法。具體步驟為：實地調查和了解玻璃板的工藝參數、運行工況；對失效的玻璃板進行外觀檢查；采用三維體視顯微鏡或掃描電鏡對失效的玻璃板的斷面和內外側表面進行細致的觀察和分析；采用表征方法對玻璃板表面清洗劑進行成分分析；采用表征方法對失效玻璃板的成分、性能進行分析；檢查和檢測玻璃板的尺寸與凹槽之間的尺寸關系；綜合以上從宏觀到微觀、從現象到本質，確定玻璃板失效的根本原因。本發明通過對高鐵齒輪箱油位計玻璃板進行系統的綜合分析后，可以快速、準確地判斷玻璃板失效的原因，進而采取針對性的預防措施。本方法對其他運輸領域聚砜、聚醚砜等高性能玻璃板的安全使用也具有實用參考價值和指導意義。
1147
0
本說明書一個或多個實施例提供一種片式熔斷器失效點的分析方法及裝置，所述熔斷器失效點的分析方法包括對待檢測的片式熔斷器的外觀進行觀察，檢測所述片式熔斷器的陶瓷基片是否損壞；將外觀合格的片式熔斷器進行X射線檢查，查找所述外觀合格的片式熔斷器失效點的位置；對外觀合格的片式熔斷器進行第一導通測試，確認所述外觀合格的片式熔斷器是否為開路；通過化學方法對所述外觀合格的片式熔斷器進行處理，獲得去除保護膜的片式熔斷器；對所述去除保護膜的片式熔斷器進行第二導通測試，獲得原始形貌完整的失效點的數量和位置。通過本發明方法中化學處理法對片式熔斷器保護膜的處理，對導電膜造成的損壞低，降低了失效點的原始形貌的受損程度。
1010
0
本申請實施例公開了一種車道保持功能失效分析方法、系統、電子設備及存儲介質，方法包括：檢測車道保持功能的失效場景；當失效場景為車輛在高速路出口且車道保持功能異常時，對車道線進行識別，并得到對車道線的識別類別；當車道線的識別類別為誤識別時，分析車輛經過高速路出口時，路面狀況對車輛行駛的影響類型以及影響嚴重程度級別；對于其它的失效場景，分析車道保持功能異常的原因類型。本申請實施例能夠根據檢測到的數據自動化分析車道保持功能異常時，路面狀況對車輛的影響以及嚴重程度級別，以及分析車道保持功能異常發生的原因，相比原始的主觀判斷和手動分析，節約了大量時間，且分析結果更加準確。
1054
0
本發明公開了二極管檢測領域內的二極管失效分析裝置，包括箱體、反應釜，箱體為矩形箱狀，箱體的上端設有進料口，箱體內壁的一側固定有兩個并列設置的支撐臂，反應釜的中部鉸接在兩個支撐臂之間。箱體頂端的內壁上固定有氣缸，氣缸的輸出端連接有伸縮桿，伸縮桿上鉸接有連桿，連桿的另一端鉸接在反應釜靠上。支撐臂下方的箱體內壁上設有導槽，箱體內部的底部設有廢液收集箱，導槽的底端伸入廢液收集箱內。本方案能夠完成二極管失效分析實驗的多次加熱腐蝕，不用操作者直接接觸反應釜，對廢棄的酸液進行集中回收處理，使實驗的危險性更低，減少對環境的污染，更加環保，更方便對二極管進行失效分析實驗。
1130
0
本發明公開了一種航空發動機轉子非包容失效安全性分析方法。本發明方法包括以下步驟：導入航空器及航空發動機數字樣機模型，并對其進行簡化；模擬航空發動機轉子碎片生成以及碎片從發動機機匣中飛出后的軌跡，將碎片對簡化后的數字樣機進行穿透性檢測；通過對發動機碎片與航空器數字樣機的穿透性檢測撞結果與航空器災難性危險的最小危險組合單元進行對比，判斷危險事件是否被觸發；根據危險觸發分析結果，求出航空器在不同失效模式下的災難性危險概率。本發明方法通過計算機仿真來求出由轉子非包容失效導致的飛機災難性事故概率，具有計算量小、效率高、分析結果準確可靠等優點，可為飛機安全性設計與適航符合性驗證提供支持。
767
0
本發明公開了一種壓力容器失效的分析方法，包括以下步驟：S1、制定檢驗方案：確定壓力容器的相關工作參數，結合相關工作參數確定失效的具體內容和形成原因，制定因素分析表，并對應不同因素增加檢測方案；S2、方案分析：分析造成失效的不同因素間的相關性，對關鍵因素進行標記，分析造成因素的原因，記錄相關聯的工作參數及產生時間、產生頻率，同步的制定風險防御方案；S3、失效分析前檢查：結合壓力容器的基本信息以及設備運行的實際情況，初步分析壓力容器是否符合特定工作狀態下各項指標要求。本發明對壓力容器存在的潛在風險進行及時防控，實現高效排除不同環境下存在的隱患，有效提升壓力容器檢驗效果與質量，適用于工業相關產業。
989
0
本申請一種閃存芯片位線間漏電失效分析的方法，涉及芯片失效分析領域，通過采用非破壞性分析工藝，將FIB切分工藝和奈米級探針量測工藝相結合，在完全不破壞前端工藝所有材料的狀況下，直接定位出失效的栓塞處，且其可檢測位于栓塞不同位置的橋連(如位于栓塞頂部、中間或其他任何位置處的橋連)，并能夠獲得較好的TEM樣品，以便于后續TEM的精準觀測，即在有效提高失效分析的可靠性的同時，還能大大降低失效分析所花費的時間及工藝成本等。
836
0
本發明公開了一種基于LIBS的鍋爐受熱面高溫失效趨勢快速分析方法，具體是：鍋爐停爐檢修期間，脈沖激光光源發出的激光聚焦于待檢測的受熱面管道表面，使檢測的金屬材料被燒蝕氣化并形成等離子體，采集等離子體膨脹冷卻過程中發射的光譜信息，提取表征受熱面管道物理和化學特性的光譜特征指標，利用激光等離子體光譜特征指標與材料組織和力學性能指標之間的關聯性，得到被測管道的組織狀態和力學性能指標，從而預測被檢測管道的失效趨勢。本發明無需割管即可對受熱面結構特性和機械性能進行快速分析，在宏觀缺陷出現前判斷其失效的趨勢，可以有效提高檢修期間金屬檢查的效率，促進快速失效分析技術的發展。
1174
0
本發明涉及半導體可靠性分析領域，尤其涉及一種半導體器件失效分析的方法。本發明建立一種針對存儲器的失效分析的方法，通過對失效區域及其周圍區域的連接通孔進行電壓對比分析并對電壓對比分析結果剖析，以檢測出快閃存儲器由于冗余替換的存儲區域缺陷經過可靠性測試或實際使用后造成的臨近區域的失效問題。在可靠性失效中對冗余替換的信息進行分析，為冗余電路的替換造成的可靠性失效問題提供有力的分析依據，并對可靠性失效率的降低提供了分析及改善的方向。
892
0
本發明公開了一種車載直流降壓芯片失效分析方法，包括以下步驟：步驟1)外觀檢查；步驟2)良品與不良品I/V測試對比分析；步驟3)無損探傷對比分析；步驟4)開封內部檢查；步驟5)EMMI對比分析；步驟6)匯總記錄，定位車載直流降壓芯片失效位置。本發明一種便捷、高效的分析方法，能夠快速定位芯片失效位置，并準確分析出失效應力來源。
854
0
本發明涉及一種PCB板失效分析方法,其包括以下步驟:1)、對PCB板進行外觀光學檢查,判斷其是否有污染或開裂現象;2)、對步驟1)中判斷有污染或開裂現象的PCB板進行電性能檢測,判斷其是否有電性異常;3)、對步驟2)中判斷有電性異常的PCB板進行X-RAY射線檢測,判斷其上的焊接是否良好;4)、對步驟3)中判斷有焊接異常的PCB板進行電子掃描顯微鏡觀察;5)、對經過步驟4)處理的PCB板進行能譜分析。本發明所述的PCB板失效分析方法,其通過對PCB板進行外觀光學檢查、電性能檢測、X-RAY射線檢測以及電子掃描顯微鏡觀察,可以有效、快速地檢測出PCB板產生的失效現象。
732
0
一種電子設備失效分析方法及系統，用于對電子設備的功能失效原因進行分析，所述方法包括：建立總數據庫，所述總數據庫包括第一數據庫，所述第一數據庫內存儲待分析電子設備的測試數據，所述測試數據包括待分析電子設備編號、測試名稱、測試指令、測試相關的器件以及測試過程中出現的失效記錄；圖像化顯示步驟，根據失效記錄對應的測試數據圖像化與所述失效現象相關的器件，生成并顯示對應的第一圖片，所述第一圖片包括相關的器件以及所述相關的器件之間的信號收發狀況；以及失效原因檢查步驟，判斷待分析電子設備的失效原因，并根據所述失效原因顯示第一圖片中造成所述失效現象的器件。
844
0
本發明公開了一種儲能電站電池的失效分析方法及裝置，包括以下步驟：(1)對儲能電池的狀態進行在線評估，利用數據驅動模型分析儲能電池單體各項參數健康度；(2)當至少一個參數的健康度低于設定的閾值時，通過電化學機理模型對該儲能電池單體進行發熱特性分析，根據分析結果對其進行容量校正和主動均衡；(3)若經過步驟(2)處理之后，仍檢測到儲能電站繼續發出在線告警信號，則將劣化儲能電池單體拆除；(4)離線診斷，找出電池失效原因。本發明將狀態在線評估與性能離線診斷相結合，通過狀態在線評估半定量分析電池單體失效的可能性，通過性能離線診斷定量檢測電池失效程度，建立儲能電站電池失效分析方法。
949
0
本發明公開一種邦定失效分析方法，包括如下步驟：S1：使用X-ray測厚儀測量鍍層厚度；S2：用掃描電鏡觀察表面形貌是否存在異常；S3：若表面形貌異常，則用線掃分析表面是否存在局部無金，若是則判定為表面形貌異常是導致邦定不良的因素之一。本發明通過掃描電鏡可快速觀察經過邦定工藝之后的產品表面是否存在形貌異常，得出邦定不良的真實原因與表面形貌異常的關系，為邦定工藝的進一步改進提供基礎。使用本方法，還能觀察到產品表面是否存在異常污染，再經過針對性地清洗異常污染之后，檢測、對比產品前后的邦定性能，可得知邦定不良的真實原因與異常元素污染的關系，為邦定工藝的進一步改進提供基礎。
1208
0
本申請提供一種印制線路板燒板失效的根因分析方法及裝置，涉及印制線路板技術領域，該方法包括：獲取燒板失效的印制線路板的失效基本信息；根據所述失效基本信息，獲得所述印制線路板的失效模式；對所述印制線路板進行檢測，得到對應的檢測結果；根據所述檢測結果和所述失效模式，分析得到所述印制線路板的失效根因。該方法及裝置可以不用過多地依賴分析人的經驗，通過采用合理規范的分析流程，準確地得到燒板失效的根本原因。
971
0
本發明提供了一種光耦失效分析方法,該方法包括以下步驟:A、對失效光耦進行外觀檢查,查看是否有明顯磨損、開裂等現象;B、對比失效光耦和良品光耦的電性測試圖,分析可能的失效原因;C、對比失效光耦和良品光耦的X-Ray透射圖片,尋找可能的失效原因;D、對失效光耦進行機械開封和化學開封,對開封后的失效光耦進行掃描電子顯微鏡觀察和能譜儀分析;E、綜合分析,確定失效光耦的具體失效原因。本發明有如下優點:本發明方法借助有限的分析儀器,在短時間內快速找到光耦失效的原因。
834
0
本發明公開了二極管檢測領域內的新型二極管失效分析裝置，包括箱體、反應釜，箱體上端設有進料口，箱體下端設有出料口；箱體頂端設有集風罩，集風罩的頂端設有抽風機，抽風機上連通有冷凝管；箱體的內壁設有兩個并列的支撐臂，反應釜的中部鉸接在兩個支撐臂上；箱體的頂端內壁上設有氣缸，氣缸的輸出端設有伸縮桿，伸縮桿的自由端設有連桿，連桿的另一端鉸接在反應釜上；箱體底部設有廢液收集箱，冷凝管的另一端與廢液收集箱連通。本方案能夠完成二極管失效分析實驗的多次加熱腐蝕，能對揮發的酸液進行抽離和冷凝回收，能對廢棄的酸液進行集中回收處理，使實驗的危險性更低，減少對環境的污染，更加環保，更方便對二極管進行失效分析實驗。
783
0
本發明涉及一種發光芯片失效原因背面分析方法。該方法包括：S10、研磨拋光N電極上與光波導對應位置的金屬陶瓷層，使光波導對應位置的N電極裸露；S20、在N電極上設置測試連接點，且測試連接點位于光波導在N電極的對應區域之外；S30、供電電路的正極連接P電極上的鍵合金屬線，供電電路的負極連接測試連接點，供電電路提供供電電壓以使發光芯片發光；S40、使用光檢測設備檢測發光芯片背面發出的光，根據獲取光確定發光芯片的失效區域。本發明解決了光芯片表面覆蓋金屬層導致失效現象無法顯現的問題，提高光芯片失效分析的準確率。
1141
0
本發明提供一種晶體三極管的失效分析方法，包括以下步驟：對需要進行分析的晶體三極管樣品進行外觀觀察，確認其是否破損之類；對晶體三極管樣品進行電性檢測，分析可能的實效原因；對晶體三極管樣品進行X-Ray透視檢查，確認晶體三極管的內部結構；將晶體三極管樣品制作成金相切片樣品；根據晶體三極管的內部結構，將金相切片樣品逐一研磨至金線位置，并在金相顯微鏡下進行觀察分析；綜合上述步驟得出的結果，確定晶體三極管的失效原因。本發明與現有技術相比不同的是，本發明的方法提供了觀察晶體三極管內部金線的結構與連接情況，從而更深入地找出晶體三極管失效的原因。
1047
0
本實用新型公開了基于LIBS的鍋爐受熱面高溫失效趨勢快速分析裝置，包括電源模塊、脈沖激光光源模塊、光譜探測模塊、分析模塊和光學組件，所述電源模塊分別與脈沖激光光源模塊、光譜探測模塊和分析模塊連接，分析模塊與光譜探測模塊連接，光譜探測模塊還與脈沖激光光源模塊連接，所述分析模塊利用激光等離子體光譜特征指標與材料組織和力學性能指標之間的關聯性，得到被測管道的組織狀態和力學性能指標。本實用新型無需割管即可對受熱面結構特性和機械性能進行快速分析，在宏觀缺陷出現前判斷其失效的趨勢，可以有效提高檢修期間金屬檢查的效率，促進快速失效分析技術的發展。
1192
0
本申請實施例公開一種芯片失效分析方法、裝置、電子設備及存儲介質，該方法包括：將主板的多個真實跌落姿態輸入到訓練完成的芯片失效分析模型；主板包括一個或多個測試芯片；通過芯片失效分析模型輸出每個真實跌落姿態下各個測試芯片受到的預測應力值，并根據每個真實跌落姿態下各個測試芯片受到的預測應力值生成與每個真實跌落姿態對應的預測應力值數組；從主板中檢測到一個或多個失效芯片時，根據每個失效芯片在多個真實跌落姿態分別對應的預測應力值數組中的預測應力值，確定出導致失效芯片失效的目標跌落姿態。實施本申請實施例，能夠準確、高效地復現芯片的失效場景，從而實現對芯片的失效分析。
中冶有色為您提供最新的有色金屬失效分析技術理論與應用信息，涵蓋發明專利、權利要求、說明書、技術領域、背景技術、實用新型內容及具體實施方式等有色技術內容。打造最具專業性的有色金屬技術理論與應用平臺！
2025年07月24日 ~ 26日 
2025年07月24日 ~ 26日 
2025年07月24日 ~ 26日 
2025年08月01日 ~ 03日 
2025年08月07日 ~ 09日 
