本申請提供了一種封裝測試方法、裝置以及電子設備,涉及封裝測試技術領域。該方法用于測試靜電保護器件,靜電保護器件包括打線腳位與空置腳位,首先從空置腳位中確定目標空置腳位,然后設置目標空置腳位的電壓為預設電壓,并設置除目標空置腳位以外的腳位電壓為零,再獲取目標空置腳位的漏電流值,最后當漏電流值大于閾值時,確定靜電保護器件封裝故障。本申請提供了一種封裝測試方法、裝置以及電子設備具有能夠檢測出靜電保護器件是否出現潛在失效的優點。
聲明:
“封裝測試方法、裝置以及電子設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)