本發明提供一種基于ATE的FPGA配置芯片的測試方法,其特征在于,包括:設定器件工作電源、輸入電平、輸出電平、參考電平、負載電流的值,設定器件的上電次序,設定器件的地址信號、控制信號和數據信號的數據格式、時序、通道和控制寄存器的分配,分別進行全芯片的擦除與驗證、單個扇區的擦除與驗證、寫狀態寄存器驗證、讀芯片ID驗證、全芯片存儲單元的讀寫功能驗證、寫保護驗證、直流參數驗證以及交流參數驗證。本發明提出的基于ATE的FPGA配置芯片的測試方法,基于T5385ES超大規模集成電路存儲器測試系統,針對EPCS16SI8N編寫專用的測試圖形,完成對EPCS16SI8N的測試,檢測其可能存在的失效模式。
聲明:
“基于ATE的FPGA配置芯片的測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)