高爐渣、轉爐渣、電爐渣或平爐渣的x射線熒光分析方法
技術領域
1.本發明涉及爐渣分析檢測領域，具體涉及一種高爐渣、轉爐渣、電爐渣或平爐渣的x射線熒光分析方法。
背景技術：
2.爐渣又稱溶渣，是火法冶金過程中生成的浮在金屬等液態物質表面的熔體，其組成以二氧化硅，氧化鋁，氧化鈣，氧化鎂為主，還常含有硫化物并夾帶少量金屬。爐渣在保證冶煉操作順利進行、冶煉產品質量、金屬回收率等各方面起著決定性作用。對各種冶金爐冶煉產生的高爐渣、轉爐渣、平爐渣或電爐渣等爐渣的化學成分分析，既是冶煉生產工藝的要求，也是環境保護和冶金廢棄物綜合利用的要求。目前對爐渣測定的最常用方法為化學濕法，這些經典的分析方法準確度高，精密度好，然而由于各成分不能同時測定，需根據方法重復進行濕法消解試樣，操作程序煩雜、分析周期長，分析誤差較大且難以控制，而且分析時使用大量的酸和堿，污染環境。還有報道采用電感耦合等離子體原子發射光譜法測定爐渣中10種化學成分，雖然能夠同時測定，但還是擺脫不了濕法消解試樣的繁雜過程。
3.x熒光分析爐渣通常采用高溫熔融法，高溫熔融法在一定程度上消除或減輕了礦物效應和基體效應帶來的影響，但是在制樣過程中，也存在諸多問題：制樣相對繁瑣耗時，不利于快速分析；分析成本高；硫在高溫時會揮發，常需要氧化劑，對試樣進行低溫預氧化，將試樣中的硫氧化為高價態固定下來，防止高溫時硫揮發損耗；另外爐渣中部分未氧化單質金屬在熔融制樣時會嚴重腐蝕鉑金坩堝，需要對試樣進行低溫預氧化，繁瑣耗時。
技術實現要素：
4.本發明的目的在于提供一種高爐渣、轉爐渣、電爐渣或平爐渣的x射線熒光分析方法。建立了通過x射線熒光光譜壓片法同時測定高爐渣、轉爐渣、電爐渣或平爐渣中的sio2、tfe、al2o3、cao、mgo、tio2、s、p2o5、tmn含量的快速分析方法，同時引入pet膜進行壓片包裹，可減少粉塵污染,保護儀器。
5.為了解決上述技術問題，本發明采用以下技術方案：
6.提供一種高爐渣、轉爐渣、電爐渣或平爐渣的x射線熒光分析方法，包括以下步驟：
7.(1)待測樣品預處理：將干燥后待檢測試樣破碎、混勻、縮分，然后研磨2
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3min，過170目(90um)篩，研磨時加入無水乙醇防止粘結；
8.(2)待測樣品壓制：將步驟(1)預處理后所得待檢測試樣干燥冷卻后，在自動壓樣機上用硼酸鑲邊襯底壓成樣
聲明：
“高爐渣、轉爐渣、電爐渣或平爐渣的X射線熒光分析方法與流程” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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編輯：中冶有色網
來源：中冶武漢冶金建筑研究院有限公司
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2025年08月05日 ~ 07日 
