本發明公開一種基于多應力耦合下電子設備可靠性評估方法,包括以下步驟:S1、確定電?熱?力場耦合下電子設備的失效模式與失效機理;S2、根據步驟S1確定的電子設備失效模式與失效機理,建立多應力耦合下電子設備可靠性物理模型;S3、根據可靠性物理模型,對電子設備進行可靠性仿真分析;S4、根據步驟S3確定的可靠性薄弱環節,對電子設備的可靠性指標進行評估;本方法并不依托可靠性壽命數據,而是從電子設備的工藝參數信息、結構材料信息、工作和使用環境應力情況出發進行分析,可有效避免壽命數據不足的難點,減少成本;可相對準確地找出電子設備的可靠性薄弱環節,進而得到與實際情況更為符合的分析結果。
聲明:
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