本發明公開了一種實現存儲器測試儀提高同測數的方法,包括:1)通過截取探針臺與存儲器測試儀之間的通訊信息,實現將探針臺上的同測數信息轉換為存儲器測試儀所擁有的同測數信息,并發送給存儲器測試儀;2)存儲器測試儀采用其原有的同測數進行測試,測試時采用應用同測與系統同測相結合的方法,對實際翻倍后的同測數量的芯片進行測試;3)獲得測試結果;4)將實際物理芯片失效情況組合為存儲器測試儀同測數信息包,在存儲器測試儀與探針臺通訊時,再將存儲器測試儀同測數信息包拆分為探針臺上同測數信息。本發明實現系統芯片同測數擴展為更多的芯片同測,加快測試速度,節省測試費用,降低生產成本。
聲明:
“實現存儲器測試儀提高同測數的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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