本發明公開了一種自動檢測測試通道的校驗圖形結構,所述校驗圖形結構包含有多個PAD,所述的多個PAD等距排列,各個PAD之間采用電阻結構進行連接。在測試機臺的測試程序中增加所述電阻校驗圖形的測試項目并優先測試,進行規格管控;當測試通道發生異常時,針對電阻校驗圖形的測試相關項目連續測試失敗,則觸發測試機臺自動暫停,測試系統根據失效位置判定可疑通道,記錄測試結果并啟動相關的缺陷診斷程序;操作員根據診斷結果判定下一步的處理方式。本發明通過校驗圖形結構來判定測試通道是否異常。能夠客觀地表征測試通道的接觸狀態,可第一時間定位異常位置,避免測試的誤判。
聲明:
“自動檢測測試通道的校驗圖形結構及測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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