一種基于聲壓反射系數功率譜測量薄層聲阻抗和聲衰減的方法,屬于材料超聲無損檢測與評價技術領域。該方法使用脈沖超聲水浸回波系統,采集來自水與薄層上表面以及水與薄層下表面的界面反射回波組成的混疊信號,再采集一個標準試塊的上表面回波信號,對兩個信號分別進行FFT,通過進一步處理得到聲壓反射系數功率譜。然后對功率譜進行低通濾波和帶通濾波,求出功率譜表達式中的相關系數,并將這些系數代入方程求得薄層的聲阻抗和聲衰減。本方法可以在不知道薄層任何參數的情況下同時求得其聲阻抗和聲衰減,克服了現有技術需要已知薄層的部分參量才能得到其他參量的不足。
聲明:
“基于聲壓反射系數功率譜測量薄層聲阻抗和聲衰減的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)