本發明涉及光學元件亞表面缺陷的無損檢測技術領域,具體涉及一種基于量子點光漂白的光學元件亞表面缺陷檢測方法及系統??梢蕴岣吖鈱W元件亞表面缺陷檢測的準確性和精確性。本發明采用的技術方案為:1)光學元件和量子點標記物表征;2)使用量子點標記光學元件亞表面缺陷;3)光學元件亞表面缺陷熒光檢測;4)采集亞表面缺陷熒光圖像;5)提取缺陷熒光強度;6)定量分析亞表面缺陷中量子點的抗光漂白特性;7)光學元件亞表面缺陷檢測。
聲明:
“基于量子點光漂白的光學元件亞表面缺陷檢測方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)