一種基于光學無損檢測的微結構低重疊度三維拼接方法。其包括基于實驗中測試機構位移平臺的運動參數將結構特征提取區域限制在測量過程中的重疊區域;在所述區域內,通過SURF算法進行特征提??;在特征點匹配階段,根據測量系統位移平臺的不確定度進一步提出縮小匹配點對搜索范圍的方法以提高特征點匹配可靠性并根據歐式距離最近鄰域法得到特征匹配點;以重疊區域的局部連續性為依據,通過STLS算法計算校正矩陣而得到最終拼接。本發明不但適用于特征豐富的結構,也適用于相似度高、特征不明顯的陣列型結構,可有效地消除誤匹配,提高拼接精度,所述的低重疊度可大大減少因重疊區域而帶來的可觀的額外測試時間,成功地實現大范圍測量。
聲明:
“基于光學無損檢測的微結構低重疊度三維拼接方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)