本文公開了一種用于ZnO壓敏電阻性能評價的無損檢測方法,ZnO壓敏電阻的性能通常是通過對其小電流特性、非線性系數、電位梯度的測試來評價。本發明是通過使用介電譜對ZnO壓敏電阻的介電性能進行測量的方法,從介電損耗以及其微觀結構缺陷活化能的觀點來評價ZnO壓敏電阻性能的好壞。本發明是一種無損傷的測量,不僅可以用于評價ZnO壓敏電阻性能的優劣,還可以對其配方和制作過程的優化有一定指導意義。
聲明:
“用于ZnO壓敏電阻性能評價的無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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