本發明涉及一種高硅拋光片表面貴金屬離子回收率測試方法,通過采用新型萃取液對高硅拋光片表面貴金屬離子萃取回收,提取貴金屬,萃取液由低濃度的硝酸和鹽酸配制而成,通過化學反應實現萃取液對貴金屬元素的回收;采用新型萃取液,能夠解決原有萃取液對于硅拋光片表面貴金屬回收率低的問題,使鉑Pt、銀Ag、鈀Pd和金Au的回收率達到了70%以上,提高硅拋光片表面貴金屬測試的穩定性,從而滿足對于硅拋光片表面貴金屬離子的測試要求。
聲明:
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