本實用新型是屬半導體器件檢測技術領域。其主要解決集成電路性能檢測的技術問題,提供一種通用集成電路測試儀。其主要技術特征在于設計了由44只阻值相同的電阻組成完全相同的兩個集成塊模擬工作條件,采用運算放大器組成了運算判斷和閾值調節電路,由發光二極管顯示。其用途是能迅速定性地判斷被測集成塊的好壞,同時半定量地反映其質量的穩定程度,為集成電路的研究、生產、銷售,應用和維修提供了實用測試儀器。
聲明:
“通用集成電路測試儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)