合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 物理檢測技術

> 一種用于微系統局部性能檢測的微波探頭

一種用于微系統局部性能檢測的微波探頭

1077   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 06:22:39
本發明公開了一種用于微系統局部性能檢測的微波探頭,屬于微波測試的技術領域,該微波探頭包括:同軸電纜,所述同軸電纜的一端為自由端且該自由端設有外露的內導體,另一端設有連接組件;設于同軸電纜上的彈性導電體,所述彈性導電體收納或彈出于同軸電纜,其中,當彈性導電體彈出于同軸電纜時,同軸電纜通過彈性導電體進行就近接地,以達到通過對微波探頭的結構優化,以實現探頭的就近接地,且微波探頭可以對微系統局部性能進行真實、穩定和重復探測,具有結構簡單、操作方便、應用范圍廣等優點。
登錄解鎖全文
聲明:
“一種用于微系統局部性能檢測的微波探頭” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
物理檢測
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX