本發明公開了一種用于微系統局部性能檢測的微波探頭,屬于微波測試的技術領域,該微波探頭包括:同軸電纜,所述同軸電纜的一端為自由端且該自由端設有外露的內導體,另一端設有連接組件;設于同軸電纜上的彈性導電體,所述彈性導電體收納或彈出于同軸電纜,其中,當彈性導電體彈出于同軸電纜時,同軸電纜通過彈性導電體進行就近接地,以達到通過對微波探頭的結構優化,以實現探頭的就近接地,且微波探頭可以對微系統局部性能進行真實、穩定和重復探測,具有結構簡單、操作方便、應用范圍廣等優點。
聲明:
“一種用于微系統局部性能檢測的微波探頭” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)