本發明涉及一種隔膜表面銅枝晶的分析方法。該分析方法包括以下步驟:1)將拆解鋰離子電池得到的隔膜進行清洗,得到待測樣品;2)使用原子力顯微鏡對待測樣品進行掃描,依據掃描圖像分析得到待測樣品上銅枝晶的分布和生長高度。本發明提供的隔膜表面銅枝晶的分析方法,通過對隔膜進行清洗、原子力顯微鏡分析,實現了隔膜上生長銅枝晶的精細表征分析,該方法可以同時對銅枝晶的分布和生長高度進行表征,可以為相關基礎理論研究或電池性能的優化提供有效支持。
聲明:
“隔膜表面銅枝晶的分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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