本實用新型公開了一種微波器件動態老化試驗系統,它包括老化試驗板(6),微波信號源(2)與程控電源(4)通過背板連接器(7)與老化試驗板(6)輸入端連接,老化試驗板(6)輸出端通過背板連接器(7)與微波信號分析儀(3)連接;解決了現有技術的微波器件老化試驗采用直流偏置的方式進行,由于這是一種靜態老化方式,存在的器件實際工作狀態與試驗狀態相差甚遠,達不到剔除早期失效器件等技術問題。
聲明:
“微波器件動態老化試驗系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)