本實用新型涉及應用于掃描電子顯微鏡的樣品座,屬于半導體芯片制造行業的失效分析領域。該樣品座包括底座、設置于底座頂部的金屬平臺以及位于金屬平臺的工作面的彈性夾具,芯片樣品直接放置在金屬平臺的工作面,所述彈性夾具壓住芯片樣品、并將芯片樣品固定于金屬平臺的工作面。本實用新型避免了使用現有技術中的雙面導電膠,增加了導電性、改善了SEM圖像質量,避免了取樣時的破損,減少了污染,節約了成本。
聲明:
“應用于掃描電子顯微鏡的樣品座” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)