合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 失效分析技術

> 半導體芯片的研磨方法

半導體芯片的研磨方法

1179   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:01:22
本發明公開了一種半導體芯片的研磨方法。本發明的研磨方法本通過定位設備獲得半導體芯片中金屬線的打線位置,保證了研磨起始位置的準確。用100~400目的粗砂紙進行研磨,直至研磨面距離打線位置達到20微米;接著使用600~1500目砂紙研磨,直至研磨面距離打線位置達到10微米;然后,用2000~2500目砂紙進行研磨,直至半導體芯片完全外露出金屬線;最后,使用3000~4000目砂紙進行充分研磨。不同的階段采用不同目數的砂紙,由此保證的研磨的精確性,從而減少或消除研磨偏差造成的對元件失效分析的時效性,降低了元件的破壞數量。
登錄解鎖全文
聲明:
“半導體芯片的研磨方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
失效分析
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX