本發明屬于內存測試技術領域,公開了一種內存顆粒多維測試方法、裝置、系統和可讀存儲介質,包括:在測試板兩面的內存顆粒插槽中同時裝載多個待測試內存顆粒,以使所述多個待測試內存顆粒以多Rank顆粒組合形式運行;將所述多Rank顆粒的測試環境設置為重負載模式下的測試環境;基于算法對所述多Rank顆粒進行ATE和/或SLT測試,并獲取錯誤顆粒單元的物理地址。本發明能夠將“有負載才失效"、"內存顆?;ハ喔蓴_"等由于多Rank顆粒組合形式引起的問題在產品SMT(Surface Mount i ng Techno l ogy,表面組裝技術)前篩選出來,提高了內存顆粒電性能負載壓力測試的能力,進而提高了內存顆粒測試的效能。
聲明:
“內存顆粒多維測試方法、裝置、系統和可讀存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)