本發明公開了一種基于神經網絡的芯片篩測方法,利用芯片的S參數測試數據,通過神經網絡公式計算和S參數比較,攔截具有早期失效風險的異常芯片,避免其成為合格品,相較于現有人工篩選芯片的方法,主觀性較小,可靠性高。本發明在芯片的量產測試階段,在原有的測試平臺上增加了芯片篩選測試程序,因不引入新的測試設備,其測試成本低,速度快,環境簡單。本發明可以顯著遏制芯片量產測試的正常波動對于量產測試的干擾作用,從S參數交流信號角度深度攔截了具有失效風險的芯片,從而降低了芯片的早期失效率。
聲明:
“基于神經網絡的芯片篩測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)