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晶粒點測機探針壓力調節裝置

1138   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:16
本實用新型公開了一種晶粒點測機探針壓力調節裝置,涉及半導體檢測技術領域,包括主體裝置,所述主體裝置的內部設置有輔助臺,所述輔助臺的左側開設有開口槽,所述開口槽的內壁活動連接有,所述的右側固定連接有連接桿,所述連接桿遠離所述的一端底部固定連接有彈簧,所述彈簧的內壁頂端設置有移動塊。本實用新型通過連接桿、移動塊和承接導體塊解決晶粒點測機在高速檢測的過程中,由于探針壓力不易控制,當探針壓力過大時,彈片在高頻形變的情況下容易彈性失效,彈性失效的彈片會導致探針和LED芯片接觸不良,影響檢測的問題,再是為了解決傳統探針在更換的時候,比較麻煩,影響后續的工作效率的問題,從而設置了緊固旋鈕。
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