本發明涉及測試裝置技術領域,特別地涉及一種測試座以及測試設備。本發明提供的測試座,測試座包括第一測試座板、第二測試座板、第一密封件、第二密封件以及支撐框。第一測試座板、第二測試座板以及支撐框構成密封空腔,同時,分別在第一測試座板以及第二測試座板的外側設置第一密封件以及第二密封件,進一步加強密封空腔的密封性能。故可有效地將外界環境與測試座內部隔離,使得處于密封空腔內的探針等測試元件處于密封的環境中,使得本申請提供的測試座在鹽霧、塵土環境條件下的檢測時,可有效地保護密封空腔內的探針等測試元件,避免機械零部件腐蝕、磨損失效,避免電路短路或斷路,進而提高芯片的測試精度。
聲明:
“測試座以及測試設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)