本發明提供了一種汽車電子中接觸端子的失效分析方法,包括以下步驟:A、使用掃描電子顯微鏡對接觸端子樣品進行表面觀察;B、使用X射線特征粒子能量譜儀分析接觸端子樣品表面元素;C、使用X射線光電子能譜進行接觸端子樣品表面化合物官能團分析;D、制作接觸端子樣品為金相切片樣品;E、使用掃描電子顯微鏡和X射線特征粒子能量譜儀對制作好的金相切片樣品進行觀察分析;F、綜合分析以上步驟得出的結論,總結出接觸端子樣品失效的具體原因。本發明方法可快速判斷出接觸端子的質量好壞以及失效的接觸端子的失效原因,可以有效規范汽車電子業界的技術人員進行關于接觸端子質量分析的方法,同時也節省大量的分析成本。
聲明:
“汽車電子中接觸端子的失效分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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