本發明涉及一種分布式SRAM失效分析方法及其系統。一種分布式SRAM失效分析方法,該方法包括以下步驟:A、獲取SRAM測試數據結果作為原始數據并對其進行失效分析,得到失效分析結果數據;B、對分析結果數據按預設的二進制編碼規則進行二進制編碼壓縮,并將壓縮后的分析結果數據注入分布式數據庫中;C、從分布式數據庫中提取要進行展示的分析結果數據,根據預設的二進制解碼規則對提取的數據進行解碼,根據繪制時的分辨率要求,對解碼后的分析結果數據按預設的數據采樣規則進行采樣后,在前端繪制展示。本發明能有效壓縮一片Wafer原有的占用空間,提高SRAM失效分析的效率。
聲明:
“分布式SRAM失效分析方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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