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基于微波探測技術的半導體亞表面信息測試系統

1014   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:58:23
本發明公開了一種基于微波探測技術的半導體亞表面信息測試系統,屬于微波探測技術領域,為亞表面信息的無損檢測提供了一種新的方法。本系統主要包含三個模塊:樣品檢測模塊、信號收發模塊、控制模塊。首先通過信號收發模塊產生一設定頻率的微波信號,并將該微波信號輸入到樣品檢測模塊當中,樣品檢測模塊將該信號通過探針輻射向待測樣品,由于微波具有穿透性,因此該微波信號可以穿過樣品表面輻射入樣品內部進行無損探測,最終的信號將重新回到信號收發模塊中進行顯示及分析,從而得出進一步的結論。本發明采用了微波探測手段實現了無損探測,并通過樣品檢測模塊的分級步進實現了更大范圍的探測。
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“基于微波探測技術的半導體亞表面信息測試系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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