本發明涉及一種電子產品的元器件加速老化檢驗方法,包括以下幾個步驟:準備待測元器件、加水全浸沒、置放于高溫環境、風干晾干、第一次檢測和第二次檢測,在第一次檢測中:目測風干晾干后的待測元器件表面是否出現損傷;有損傷待測元器件,則被認為檢驗不合格,該種待測元器件檢驗終止;無損傷待測元器件,則繼續進行后續檢驗步驟;在第二次檢測中,將第一次檢測合格的待測元器件,進行焊接組裝形成電表;對電表進行電表參數性能檢驗,判斷是否符合標準;其將待測元器件依次加水全浸沒、置放高溫環境和風干晾干,篩選出無損傷待測元器件后焊接組裝進行電表參數性能檢驗,檢驗成本較低,提高檢測便利性,提高檢測效率,有效杜絕電子產品的缺陷。
聲明:
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