本發明公開了一種利用射頻標簽陣列和其極化特性檢測物品質量的裝置,包括正交極化排列或者并排排列的射頻標簽即射頻標簽陣列,頻譜儀,所述射頻標簽內包括天線和射頻芯片,射頻標簽充電后發射信號,頻譜儀或者射頻接收機收集陣列中各個射頻標簽產生的回波射頻信號并進行分析和處理。本發明的一種利用射頻標簽陣列和其極化特性檢測物品質量的裝置,通過使用射頻標簽陣列,有效克服了從單個射頻標簽的回波射頻信號無法提取所附著物品足夠信息的缺陷。射頻標簽陣列不同的陣列組合可以適應對不同物品無損監測的需求,同時通過個性化的射頻標簽天線的設計和組陣,改善對有些物品通過單個射頻標簽無法進行有效質量監測的狀況。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)