本發明公開了一種基于光譜技術玉米霉變的快速檢測方法及方法,所述方法包括以下步驟:準備霉變玉米和未霉變玉米;利用地物光譜儀分別采集霉變玉米和未霉變玉米的光譜數據,并進行特征分析;根據波段400nm、700nm對應的光譜反射率分別計算霉變玉米和未霉變玉米的玉米霉變指數;統計分析霉變玉米和完好玉米的霉變指數值的變化范圍,并依據實際情況確定霉變與未霉變玉米分界值;基于所述霉變與未霉變玉米分界值,判斷待測玉米是否霉變。本發明提供的基于光譜技術玉米霉變的快速檢測方法,方法簡單,操作方便,可實現快速、無損、實時玉米霉變的檢測,為提高玉米存儲質量提供基礎技術支持。
聲明:
“基于光譜技術玉米霉變的快速檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)