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LED外延片的無損測試裝置及測試方法

1122   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:57:58
本發明涉及一種LED外延片的無損測試裝置及測試方法,包括電流源及連接電流源的N極測試針、P極測試針,N極測試針、P極測試針的針頭均包有焊錫、銦?;旌系你熷a方塊,銦錫方塊的高度h的取值范圍為a≤h≤b,a是指LED外延片中N型GaN層下表面及其下面所有層的厚度和,b是指LED外延片中N型GaN層上表面及其下面所有層的厚度和。銦錫方塊與現有的銦粒相比,硬度大,不易變形,導電性好;避免了每次測試時都要用新銦粒造成的材料浪費,同時,避免銦粒粘附在LED外延片表層造成的污染等問題。
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