本發明涉及一種LED外延片的無損測試裝置及測試方法,包括電流源及連接電流源的N極測試針、P極測試針,N極測試針、P極測試針的針頭均包有焊錫、銦?;旌系你熷a方塊,銦錫方塊的高度h的取值范圍為a≤h≤b,a是指LED外延片中N型GaN層下表面及其下面所有層的厚度和,b是指LED外延片中N型GaN層上表面及其下面所有層的厚度和。銦錫方塊與現有的銦粒相比,硬度大,不易變形,導電性好;避免了每次測試時都要用新銦粒造成的材料浪費,同時,避免銦粒粘附在LED外延片表層造成的污染等問題。
聲明:
“LED外延片的無損測試裝置及測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)