本發明涉及可能有裂紋的表面狀態的無損檢測方法,該方法基于對涂在表面上和裂紋中的染料在入射激勵光束的作用下發出的光波的觀測,所述入射激勵光束的波長適于所述染料。本發明的特征在于,利用染料隨厚度不同而發出的直線偏振光波相對入射偏振光波的旋轉,來從觀察結果中消掉表面殘留染料導致的光斑。在附圖中,標號(1)是一個激光器,標號(2)是一個觀察攝像機,標號(3)是一個偏振光檢偏器。本發明應用于染料滲透探測和磁粉探測。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)