本發明公開了一種多層次缺陷分類的氮化硅軸承球缺陷無損檢測裝置,包括上料機構、水平送料機構、行星輪系送料機構、頂部檢測機構、下部檢測機構、出料機構;所述上料機構位于水平送料機構的前端;所述下部檢測機構、出料機構位于水平送料機構的末端;所述頂部檢測機構位于水平送料機構中間段的上方;所述行星輪系送料機構位于水平送料機構結束段、下部檢測機構、出料機構的上方。本發明不僅實現了氮化硅軸承球外表面無損檢測以避免二次損傷,而且有效實現了全方位的檢測,具有廣闊的應用和市場前景。
聲明:
“多層次缺陷分類的氮化硅軸承球缺陷無損檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)