本發明屬于電化學技術領域,公開了一種用于SECCM高分辨成像的探針單元和控制方法,探針單元包括單通道的探針,探針的開孔直徑為50?100nm;探針由控制模塊對其液滴針尖進行控制;控制模塊用于進行如下控制方法:在進針過程增設最小化的進針電壓校正,在進針過程增設最小化的進針速度校正,在電化學測試過程增設最小化的測試電壓校正,以及在抬針過程增設最小化的抬起高度校正。本發明極大的提高了成像過程中的穩定性,為實現高分辨的成像提供了更大的可能性;并且不需要添加額外的硬件設備,避免儀器設備成本的過高增加。測試表明,本發明能夠成功得到40?50nm尺寸樣品的高分辨形貌圖像,已達到國際領先水平。
聲明:
“用于SECCM高分辨成像的探針單元和控制方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)