本發明提出了一種全反射X射線熒光光譜儀,包括:樣品室,其包括用于盛放樣品的樣品臺、樣品定位裝置和用于探測所述樣品受X射線照射時產生的熒光的探測器;X射線管發生裝置,用于發射X射線照射至所述樣品,所述X射線入射至所述樣品的入射角<0.1°;單色器裝置,用于將所述X射線形成單色光;控制裝置,用于接收所述探測器探測到的所述樣品產生的熒光和分析所述樣品中的元素及含量。本發明提出的一種全反射X熒光光譜儀,其以小于0.1°的角掠入射,整形成條狀的原級束被全反射,用于微量樣品和痕量元素化學分析。
聲明:
“全反射X射線熒光光譜儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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