本發明提供了一種基于表面增強拉曼散射的磁場探測器,在第一磁致伸縮材料上設置貴金屬顆粒,在待測磁場作用下,第一磁致伸縮材料形變,改變貴金屬顆粒間的距離,從而改變貴金屬顆粒附近的電場強度,從而改變化學分子的表面增強拉曼散射信號強度,根據表面增強拉曼散射信號強度確定待測磁場。由于表面增強拉曼散射信號強度正比于局域電場的四次方,所以表面增強拉曼散射對金屬納米結構附近的電場非常敏感,而納米結構附近的電場對納米結構間的距離非常敏感,所以本發明具有靈敏度高、探測極限低的優點,在磁場探測領域具有較好的前景。
聲明:
“基于表面增強拉曼散射的磁場探測器” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)