本實用新型提供一種芯片檢測裝置,包括:至少一個檢測頭和檢測主機,所述檢測頭,包括多個探針和通信接口,所述探針用于與被檢測芯片的端子接觸以使所述探針與所述被檢測芯片通信連接;所述通信接口與所述探針連接,所述通信接口用于實現所述檢測頭與檢測主機的通信;所述檢測主機包括多個功能檢測電路和選擇電路,所述選擇電路用于選擇所需的功能檢測電路與檢測頭通信,以使所述檢測主機通過檢測頭對芯片執行相應的性能檢測。本實用新型芯片檢測裝置采用若干個功能檢測電路與選擇電路相配合的方式,選擇電路依據檢測需求選擇相應的功能檢測電路,從而對芯片的不同功能實現檢測。
聲明:
“芯片檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)