本發明公開了一種eMMC質量檢測修復方法、裝置及存儲介質,其中該方法包括:讀取eMMC芯片的協議版本信息及生產日期,非失真寄存器及只讀信息,獲取所述eMMC芯片的第一質量狀態;讀取所述eMMC芯片的數據存儲區,判斷是否全為默認值,提取分區特征,獲取所述eMMC芯片的第二質量狀態;對所述eMMC芯片進行讀取擦除性能檢測,獲取所述eMMC芯片的第三質量狀態;根據第一質量狀態、第二質量狀態及第三質量狀態生成所述eMMC芯片的質量評估結果;根據所述質量評估結果,對所述非失真寄存器開啟的功能進行關閉,通過擦除命令修復數據存儲區,并對讀寫性能進行修復。簡要描述技術效果。本發明通過多種方式檢測,檢測修復的覆蓋面廣,準確率高,貼近用戶實際使用需求。
聲明:
“eMMC質量檢測修復方法、裝置及其存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)