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一種電子產品研發用密封性能檢測裝置及其使用方法

1125   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 06:19:38
本發明涉及檢測設備技術領域,且公開了一種電子產品研發用密封性能檢測裝置及其使用方法,其中的電子產品研發用密封性能檢測裝置包括檢測箱,所述檢測箱內填充有檢測水,所述檢測箱的頂部設有蓋板,蓋板的底端轉動安裝有第一轉桿,第一轉桿的底端固定安裝有U形架,U形架的兩側內壁上均開設有螺紋孔,螺紋孔內螺紋安裝有螺桿,螺桿的一端固定安裝有壓板,螺桿的另一端固定安裝有轉板,檢測箱的兩側均固定安裝有兩個對稱設置的連接座。本發明設計合理,便于對電子產品進行移動,從而便于把電子產品放置到檢測水中,且便于把電子產品從檢測水中取出,且便于對電子產品的表面進行風干。
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聲明:
“一種電子產品研發用密封性能檢測裝置及其使用方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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