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用于X射線熒光分析法測量硅鐵中硅含量的試樣的制備方法

764   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 00:22:04
本發明涉及一種用于X射線熒光分析法測量硅鐵中硅含量的試樣的制備方法。包括一次配料、預氧化、二次配料、熔融,一次配料是用濾紙及混合氧化劑包裹硅鐵試樣,將試料包裹成球狀;預氧化是將坩堝內填滿石墨并將球狀試料放入石墨凹坑中,然后在高溫馬弗爐內氧化成橢球狀試料;二次配料是在鉑金器皿鋪碘化銨脫模劑,放置冷卻好的橢球狀試料,用四硼酸鋰和偏硼酸混合熔劑覆蓋橢球狀試料;熔融是將鉑金器皿放入熔片機內,在900℃~1050℃溫度狀態下熔融19min后得到熔片即為試樣,可直接用于X射線光譜分析儀進行分析。本發明可多樣同時制作且過程可控性簡單,試驗耗時短,制作成本低,X射線熒光分析結果準確度高。
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“用于X射線熒光分析法測量硅鐵中硅含量的試樣的制備方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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