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工作原理：
72DL PLUS基于高頻超聲波脈沖反射原理，設備發射窄脈沖超聲波（頻率范圍10MHz-100MHz可調），超聲波穿透材料后，在底面或界面產生反射回波。內置的高靈敏度接收器捕獲回波信號，并通過數字信號處理算法計算超聲波在材料中的傳播時間。結合已知的聲速參數，系統自動換算出材料厚度，測量精度達±0.001mm。針對超薄材料，設備采用特殊設計的窄脈沖探頭與優化算法，有效消除多次反射干擾，確保測量結果的穩定性與重復性。
應用范圍：
適用于半導體行業晶圓、封裝基板的厚度均勻性檢測；滿足電子制造領域手機玻璃、OLED屏幕、柔性電路板的微米級厚度測量需求；可應用于精密機械行業軸承套圈、薄膜傳感器的在線質量控制；同時支持航空航天領域復合材料構件、高溫合金薄板的厚度監測，符合ASTM E797、ISO 20340等國際標準要求。
產品技術參數：
頻率范圍：10MHz-100MHz連續可調；最小可測厚度：0.05mm；測量精度：±0.001mm（標準試塊）；分辨率：0.0001mm；顯示刷新率：≥50次/秒；數據存儲：支持10萬組以上測量記錄；接口類型：USB 3.0、藍牙5.0；防護等級：IP65，適應-10℃至50℃工作環境；電池續航：≥12小時（連續測量）。
產品特點：
高頻窄脈沖技術突破超薄材料測量極限；一鍵式自動校準功能簡化操作流程；大尺寸高亮度顯示屏支持強光環境清晰讀數；無線數據傳輸模塊實現實時監控與云端存儲；智能統計分析軟件提供厚度趨勢圖與CPK值計算，助力企業構建數字化質量管控體系。
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湖北 - 武漢
2025年07月23日 ~ 26日
