權利要求書： 1.一種晶粒自動分揀機，其特征在于：包括控制臺、上層面板和下層面板，所述上層面板包括Tray盤、抓取機構和可拆卸的檢測機構，所述抓取機構包括滑軌和設置于滑軌上的吸嘴結構，所述檢測機構包括并排固定設置的若干測站，所述下層面板的結構與上層面板的結構相同，且設置于上層面板的下方。
2.根據權利要求1所述的一種晶粒自動分揀機，其特征在于：所述滑軌包括X軸滑軌和Y軸滑軌，并分別對應設有X軸伺服馬達和Y軸伺服馬達，所述吸嘴結構在滑軌上滑動連接，通過X軸滑軌和Y軸滑軌之間的相對滑動在平面內作定點運動。
3.根據權利要求1所述的一種晶粒自動分揀機，其特征在于：所述測站包括吹氣機構和真空調整機構，還包括推料氣缸和光柵保護機構。
4.根據權利要求1所述的一種晶粒自動分揀機，其特征在于：所述控制臺包括顯示屏、控制鍵盤、鼠標、旋鈕、輪盤、急停按鈕。
說明書： 一種晶粒自動分揀機技術領域[0001] 本實用新型涉及晶粒篩分技術領域，具體涉及一種晶粒自動分揀機。背景技術[0002] 隨著科技的進步，現今電子產品的種類與款式也越來越多。在電子產品中常用到不同種類的晶粒，這些晶粒都是先從晶圓切割并分揀出來的。然而，在每一塊晶圓上都能切
割出不同品質的晶粒。在工業應用上，需要晶圓上不同品質的晶粒分揀出來并進行檢測、歸
類。
[0003] 然而，現有設備只能用來檢測晶粒是否有裂痕等品質問題，不能同時對其工作性能進行檢測。此外，檢測后的瑕疵品通常需要人工分揀，浪費人力成本，效率比較低。
實用新型內容
[0004] 本實用新型的目的是克服現有技術的不足和缺陷，提供一種晶粒自動分揀機。[0005] 本實用新型的目的是通過以下技術方案來實現的：[0006] 一種晶粒自動分揀機，包括控制臺、上層面板和下層面板，所述上層面板包括Tray盤、抓取機構和可拆卸的檢測機構，所述抓取機構包括滑軌和設置于滑軌上的吸嘴結構，所
述檢測機構包括并排固定設置的若干測站，所述下層面板的結構與上層面板的結構相同，
且設置于上層面板的下方。
[0007] 具體的，所述滑軌包括X軸滑軌和Y軸滑軌，并分別對應設有X軸伺服馬達和Y軸伺服馬達，所述吸嘴結構在滑軌上滑動連接，通過X軸滑軌和Y軸滑軌之間的相對滑動在平面
內
聲明：
“晶粒自動分揀機” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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編輯：中冶有色網
來源：深圳市芯探科技有限公司
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2025年07月24日 ~ 26日 
